行業(yè)動(dòng)態(tài)
發(fā)現(xiàn)最新行業(yè)動(dòng)態(tài)及技術(shù)發(fā)展新聞
發(fā)布日期：2023-05-22 11:34:50
原子力顯微鏡探針是在STM的基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的。它用于通過(guò)測(cè)量樣品表面上的分子（原子）與AFM微懸臂探針之間的相互作用來(lái)觀察樣品表面的形態(tài)。
發(fā)布日期：2023-04-12 10:00:44
原子力顯微鏡探針能夠探測(cè)到幾乎所有的材料，包括金屬、半導(dǎo)體、陶瓷、聚合物、生物分子等。
發(fā)布日期：2023-04-04 10:41:35
原子力顯微鏡探針，簡(jiǎn)稱AFM（AtomicForceMicroscope），是一種利用微小力量探測(cè)物質(zhì)表面的工具。它具有高分辨率、高靈敏度和不需要顯影劑等優(yōu)點(diǎn)，因此在材料科學(xué)、表面科學(xué)、納米學(xué)、生物科學(xué)等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。
發(fā)布日期：2023-03-23 11:01:03
原子力顯微鏡探針是一種非接觸式呈量子力學(xué)效應(yīng)的微小探頭，也被稱為“納米高精度計(jì)”、“納米級(jí)掃描振鏡”等。它由納米級(jí)電子學(xué)傳感器、微機(jī)械臂等部分組成，可測(cè)定固體物質(zhì)表面的微觀形貌和性能特征。