AFM探針的一些常見問題及答案，大家來看看
發(fā)布日期：2021-12-03 10:55:29
AFM探針的一些常見問題及答案，大家來看看。
在AFM探針測試過程中，AFM探針廠家的工作人員從與很多同學的交流中了解到，很多同學對這個項目了解不多。所以AFM探針廠家對AFM探針測試問題進行收集整理，希望對感興趣的伙伴們有所幫助。
1.原子力顯微鏡能控制溫度嗎？
答：目前AFM無法控制溫度，需要定制設備的溫控系統。
2.測量二維mxene納米片樣品濃度有什么要求？
答：沒有固定值，比TEM濃度略厚。通過觀察溶液的顏色來確定，確定合適的超聲波和清洗時間來保證分散效果，否則納米片樣品不均勻。
3.單層石墨烯基二維材料的厚度如何制備？
答：以DMF為溶劑，超聲半小時以上，靜置10分鐘，將液體滴加或旋涂在云母或硅襯底上，在適當溫度下干燥，測試前用氮氣吹掃。
4.腐蝕后的樣品可以用作原子力顯微鏡嗎？
答：可以，但要確保樣品的表面波動低于微米級。
5.吹氮干燥和冷凍干燥哪種方法更好？
答：氮氣吹掃一般在干燥后進行，以上兩種干燥方式差別不大。
6.如何準備薄膜測試樣品以保證平整度？
答：貼膜應盡量切小，以免裝裱過程中起泡。
7.設定點的設置如何判斷為百分比？
回答：根據選擇的測試類型設置特定的設定點。接觸模式和峰值力輕敲模式的設定點之間的關系與力成正比。攻絲模式的設定點和力之間的關系是拋物線。一般選擇自由振幅的80%，自由振幅是已知的。
8.測量比表面積時測試時間過長是因為樣品的原因嗎？是不是沒有在規(guī)定的時間內完成？
答：測試時間與測試頻率有關。測試掃描頻率越高，掃描速度越快，時間越短，反之亦然。
9.如果粉末分散液滴到云母片上，云母片是否小于200毫米？如果材料的尺寸在幾微米左右，可以測量嗎？
答：云母的直徑一般為1厘米，我們的樣品臺尺寸為200毫米。其實AFM的測量范圍是很小的范圍，一個1cm左右大小的基片完全可以滿足測試要求。
10.你通常在PFM用什么探頭？
答：導電探針可以。建議使用單片機-Pit系列探頭。
如果大家還想了解更多關于AFM探針的內容可以聯系我們。我們是AFM探針的生產廠家，對于它有著充分的了解，可以幫助大家了解更多相關的內容。
在AFM探針測試過程中，AFM探針廠家的工作人員從與很多同學的交流中了解到，很多同學對這個項目了解不多。所以AFM探針廠家對AFM探針測試問題進行收集整理，希望對感興趣的伙伴們有所幫助。
1.原子力顯微鏡能控制溫度嗎？
答：目前AFM無法控制溫度，需要定制設備的溫控系統。
2.測量二維mxene納米片樣品濃度有什么要求？
答：沒有固定值，比TEM濃度略厚。通過觀察溶液的顏色來確定，確定合適的超聲波和清洗時間來保證分散效果，否則納米片樣品不均勻。
3.單層石墨烯基二維材料的厚度如何制備？
答：以DMF為溶劑，超聲半小時以上，靜置10分鐘，將液體滴加或旋涂在云母或硅襯底上，在適當溫度下干燥，測試前用氮氣吹掃。
4.腐蝕后的樣品可以用作原子力顯微鏡嗎？
答：可以，但要確保樣品的表面波動低于微米級。
5.吹氮干燥和冷凍干燥哪種方法更好？
答：氮氣吹掃一般在干燥后進行，以上兩種干燥方式差別不大。
6.如何準備薄膜測試樣品以保證平整度？
答：貼膜應盡量切小，以免裝裱過程中起泡。
7.設定點的設置如何判斷為百分比？
回答：根據選擇的測試類型設置特定的設定點。接觸模式和峰值力輕敲模式的設定點之間的關系與力成正比。攻絲模式的設定點和力之間的關系是拋物線。一般選擇自由振幅的80%，自由振幅是已知的。
8.測量比表面積時測試時間過長是因為樣品的原因嗎？是不是沒有在規(guī)定的時間內完成？
答：測試時間與測試頻率有關。測試掃描頻率越高，掃描速度越快，時間越短，反之亦然。
9.如果粉末分散液滴到云母片上，云母片是否小于200毫米？如果材料的尺寸在幾微米左右，可以測量嗎？
答：云母的直徑一般為1厘米，我們的樣品臺尺寸為200毫米。其實AFM的測量范圍是很小的范圍，一個1cm左右大小的基片完全可以滿足測試要求。
10.你通常在PFM用什么探頭？
答：導電探針可以。建議使用單片機-Pit系列探頭。
如果大家還想了解更多關于AFM探針的內容可以聯系我們。我們是AFM探針的生產廠家，對于它有著充分的了解，可以幫助大家了解更多相關的內容。