掃描探針顯微鏡探針的特點有哪些
發(fā)布日期:2023-01-31 15:00:00

 掃描探針顯微鏡探針廠家認(rèn)為掃描探針顯微鏡探針廠家認(rèn)為掃描探針顯微鏡是掃描隧道顯微鏡和各種新型探針顯微鏡(原子力顯微鏡AFM、激光力顯微鏡LFM、磁力顯微鏡MFM等)的總稱。在掃描隧道顯微鏡的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的。它是近年來國際上發(fā)展起來的一種表面分析儀器,運用了光電技術(shù)、激光技術(shù)、微弱信號檢測技術(shù)、精 密機(jī)械設(shè)計與加工、自動控制技術(shù)、數(shù)字信號處理技術(shù)、應(yīng)用光學(xué)技術(shù)、計算機(jī)高速采集與控制和高分辨率圖形處理技術(shù)。

掃描探針顯微鏡探針廠家認(rèn)為掃描探針顯微鏡探針廠家認(rèn)為掃描探針顯微鏡(SPM)因其高分辨率(原子分辨率)、實時、真實空間和原位成像,對樣品在大氣、常溫甚至溶液中成像無特殊要求,以及納米操縱和處理功能、系統(tǒng)和配套設(shè)施相對簡單、成本低廉等優(yōu)點,被廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、材料科學(xué)、物理、化學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域。并取得了許多重要成果。

掃描探針顯微鏡探針廠家認(rèn)為掃描探針顯微鏡探針廠家認(rèn)為作為一種新的顯微鏡工具,SPM與以前的顯微鏡和分析儀器相比具有明顯的優(yōu)勢:

首先,SPM的分辨率高。它可以輕松地“看見”原子,這是普通顯微鏡甚至電子顯微鏡都難以實現(xiàn)的。

其次,SPM獲得樣品表面的實時和真實的高分辨率圖像。與一些分析儀器不同,樣品的表面結(jié)構(gòu)是通過間接或計算方法來估計的。也就是說,SPM真的看到了原子。

第三,放寬了SPM的使用環(huán)境。掃描探針顯微鏡探針廠家認(rèn)為電子顯微鏡等儀器對工作環(huán)境有嚴(yán)格的要求,測試前將樣品置于高真空中。SPM可以在真空中工作,可以在大氣、低溫、常溫、高溫甚至溶液中使用。因此,SPM適用于各種工作環(huán)境下的科學(xué)實驗。掃描探針顯微鏡的應(yīng)用領(lǐng)域非常廣泛。無論是物理、化學(xué)、生物、醫(yī)學(xué)等基礎(chǔ)學(xué)科,還是材料、微電子等應(yīng)用學(xué)科,都有它的應(yīng)用。

掃描探針顯微鏡探針廠家認(rèn)為掃描探針顯微鏡探針廠家認(rèn)為目前掃描探針顯微鏡中廣泛使用的管狀壓電掃描器的垂直擴(kuò)展范圍一般比平面掃描小一個數(shù)量級。掃描時,掃描儀隨著樣品表面的起伏而伸縮。如果被測樣品表面的波動超過掃描儀的擴(kuò)展范圍,系統(tǒng)將無法 正常工作,甚至損壞探頭。因此,掃描探針顯微鏡對樣品表面的粗糙度要求較高。