AFM探針的一些常見問題及答案，大家來看看
發(fā)布日期：2021-12-03 10:55:29
AFM探針的一些常見問題及答案，大家來看看。
在AFM探針測(cè)試過程中，AFM探針廠家的工作人員從與很多同學(xué)的交流中了解到，很多同學(xué)對(duì)這個(gè)項(xiàng)目了解不多。所以AFM探針廠家對(duì)AFM探針測(cè)試問題進(jìn)行收集整理，希望對(duì)感興趣的伙伴們有所幫助。
1.原子力顯微鏡能控制溫度嗎？
答：目前AFM無(wú)法控制溫度，需要定制設(shè)備的溫控系統(tǒng)。
2.測(cè)量二維mxene納米片樣品濃度有什么要求？
答：沒有固定值，比TEM濃度略厚。通過觀察溶液的顏色來確定，確定合適的超聲波和清洗時(shí)間來保證分散效果，否則納米片樣品不均勻。
3.單層石墨烯基二維材料的厚度如何制備？
答：以DMF為溶劑，超聲半小時(shí)以上，靜置10分鐘，將液體滴加或旋涂在云母或硅襯底上，在適當(dāng)溫度下干燥，測(cè)試前用氮?dú)獯祾摺?br />
4.腐蝕后的樣品可以用作原子力顯微鏡嗎？
答：可以，但要確保樣品的表面波動(dòng)低于微米級(jí)。
5.吹氮干燥和冷凍干燥哪種方法更好？
答：氮?dú)獯祾咭话阍诟稍锖筮M(jìn)行，以上兩種干燥方式差別不大。
6.如何準(zhǔn)備薄膜測(cè)試樣品以保證平整度？
答：貼膜應(yīng)盡量切小，以免裝裱過程中起泡。
7.設(shè)定點(diǎn)的設(shè)置如何判斷為百分比？
回答：根據(jù)選擇的測(cè)試類型設(shè)置特定的設(shè)定點(diǎn)。接觸模式和峰值力輕敲模式的設(shè)定點(diǎn)之間的關(guān)系與力成正比。攻絲模式的設(shè)定點(diǎn)和力之間的關(guān)系是拋物線。一般選擇自由振幅的80%，自由振幅是已知的。
8.測(cè)量比表面積時(shí)測(cè)試時(shí)間過長(zhǎng)是因?yàn)闃悠返脑騿?？是不是沒有在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)完成？
答：測(cè)試時(shí)間與測(cè)試頻率有關(guān)。測(cè)試掃描頻率越高，掃描速度越快，時(shí)間越短，反之亦然。
9.如果粉末分散液滴到云母片上，云母片是否小于200毫米？如果材料的尺寸在幾微米左右，可以測(cè)量嗎？
答：云母的直徑一般為1厘米，我們的樣品臺(tái)尺寸為200毫米。其實(shí)AFM的測(cè)量范圍是很小的范圍，一個(gè)1cm左右大小的基片完全可以滿足測(cè)試要求。
10.你通常在PFM用什么探頭？
答：導(dǎo)電探針可以。建議使用單片機(jī)-Pit系列探頭。
如果大家還想了解更多關(guān)于AFM探針的內(nèi)容可以聯(lián)系我們。我們是AFM探針的生產(chǎn)廠家，對(duì)于它有著充分的了解，可以幫助大家了解更多相關(guān)的內(nèi)容。
在AFM探針測(cè)試過程中，AFM探針廠家的工作人員從與很多同學(xué)的交流中了解到，很多同學(xué)對(duì)這個(gè)項(xiàng)目了解不多。所以AFM探針廠家對(duì)AFM探針測(cè)試問題進(jìn)行收集整理，希望對(duì)感興趣的伙伴們有所幫助。
1.原子力顯微鏡能控制溫度嗎？
答：目前AFM無(wú)法控制溫度，需要定制設(shè)備的溫控系統(tǒng)。
2.測(cè)量二維mxene納米片樣品濃度有什么要求？
答：沒有固定值，比TEM濃度略厚。通過觀察溶液的顏色來確定，確定合適的超聲波和清洗時(shí)間來保證分散效果，否則納米片樣品不均勻。
3.單層石墨烯基二維材料的厚度如何制備？
答：以DMF為溶劑，超聲半小時(shí)以上，靜置10分鐘，將液體滴加或旋涂在云母或硅襯底上，在適當(dāng)溫度下干燥，測(cè)試前用氮?dú)獯祾摺?br />
4.腐蝕后的樣品可以用作原子力顯微鏡嗎？
答：可以，但要確保樣品的表面波動(dòng)低于微米級(jí)。
5.吹氮干燥和冷凍干燥哪種方法更好？
答：氮?dú)獯祾咭话阍诟稍锖筮M(jìn)行，以上兩種干燥方式差別不大。
6.如何準(zhǔn)備薄膜測(cè)試樣品以保證平整度？
答：貼膜應(yīng)盡量切小，以免裝裱過程中起泡。
7.設(shè)定點(diǎn)的設(shè)置如何判斷為百分比？
回答：根據(jù)選擇的測(cè)試類型設(shè)置特定的設(shè)定點(diǎn)。接觸模式和峰值力輕敲模式的設(shè)定點(diǎn)之間的關(guān)系與力成正比。攻絲模式的設(shè)定點(diǎn)和力之間的關(guān)系是拋物線。一般選擇自由振幅的80%，自由振幅是已知的。
8.測(cè)量比表面積時(shí)測(cè)試時(shí)間過長(zhǎng)是因?yàn)闃悠返脑騿?？是不是沒有在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)完成？
答：測(cè)試時(shí)間與測(cè)試頻率有關(guān)。測(cè)試掃描頻率越高，掃描速度越快，時(shí)間越短，反之亦然。
9.如果粉末分散液滴到云母片上，云母片是否小于200毫米？如果材料的尺寸在幾微米左右，可以測(cè)量嗎？
答：云母的直徑一般為1厘米，我們的樣品臺(tái)尺寸為200毫米。其實(shí)AFM的測(cè)量范圍是很小的范圍，一個(gè)1cm左右大小的基片完全可以滿足測(cè)試要求。
10.你通常在PFM用什么探頭？
答：導(dǎo)電探針可以。建議使用單片機(jī)-Pit系列探頭。
如果大家還想了解更多關(guān)于AFM探針的內(nèi)容可以聯(lián)系我們。我們是AFM探針的生產(chǎn)廠家，對(duì)于它有著充分的了解，可以幫助大家了解更多相關(guān)的內(nèi)容。