使用AFM-IR技術(shù)的nanoIR3具有小于10 nm分辨率的極致性能

基于原子力顯微鏡（AFM）的紅外光譜技術(shù)（AFM-IR），使用 AFM 探針對樣品局部通過紅外吸收產(chǎn)生的熱膨脹信號進行檢測。因此，AFM-IR 技術(shù)不僅擁有 AFM 的空間分辨率，而且可以進行基于紅外光譜的化學(xué)分析和成分分布成像。以多年行業(yè)領(lǐng)先的 AFMIR 儀器研發(fā)制造為基礎(chǔ)，融合最先進的獨有技術(shù)，全新的 Bruker Anasys nanoIR3 系統(tǒng)集成了納米尺度紅外光譜技術(shù)、化學(xué)成像、材料性質(zhì)成像等一系列功能，以其最高的性能在生命科學(xué)、化學(xué)和材料學(xué)領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。

nanoIR3系統(tǒng)的主要特點

1）Tapping AFM-IR 技術(shù)可以實現(xiàn)小于10 nm 分辨率的化學(xué)成像

2） HYPERspectra 技術(shù)實現(xiàn)高性能的納米尺度 FTIR 光譜

3） 納米尺度材料性質(zhì)分布

4）可匹配行業(yè) FTIR 數(shù)據(jù)庫

Tapping AFM-IR技術(shù)實現(xiàn)小于10 nm分辨率的化學(xué)成像

專利申請中全新的Tapping AFM-IR成像技術(shù)實現(xiàn)了結(jié)合最高空間分辨率與高成像速度的化學(xué)成像技術(shù)。無論您的目標(biāo)是對聚合物進行化學(xué)成分分布表征，亦或是對最小的污染物顆?；?qū)ψ畋〉亩鄬幽んw系進行化學(xué)成分分析，都可以輕松快捷的獲得高分辨率的化學(xué)成像。

 HYPERspectra實現(xiàn)數(shù)秒內(nèi)高速光譜采集

布魯克HYPERspectra激光技術(shù)將共振增強AFM-IR技術(shù)擴展至更廣的光譜范圍(包括OH，CH伸縮振動以及N-H伸縮振動區(qū)域)。這項專有技術(shù)為更為廣泛的應(yīng)用所必須的分辨率與靈敏度設(shè)定了新標(biāo)準(zhǔn)，同時仍可以在納米尺度下提供杰出的直接關(guān)聯(lián)FTIR光譜。

最高的空間分辨率和單層靈敏度

專有的Tapping AFM-IR技術(shù)和HYPERspectra技術(shù)樹立了分辨率與靈敏度的新標(biāo)準(zhǔn)，在保持單層靈敏度的同時，實現(xiàn)了小于10 nm的空間分辨率。

納米尺度材料性質(zhì)分布成像

集成化、全功能的AFM系統(tǒng)具有多種熱學(xué)、力學(xué)以及電學(xué)模式進行材料性質(zhì)分表征，以實現(xiàn)獨特的多模式表征在材料學(xué)和生命科學(xué)中的廣泛應(yīng)用。

POINTspectra技術(shù)成像與光譜采集

nanoIR3還可以實現(xiàn)紅外化學(xué)成像對感興趣特征的化學(xué)變化表征。獨特的POINTspectra功能使用單個激光光源提供點光譜采集和化學(xué)成像功能，從而縮短數(shù)據(jù)采集時間，提供了一個更具成本效益的研究解決方案

與業(yè)內(nèi)FTIR數(shù)據(jù)庫匹配

nanoIR3提供了高質(zhì)量的紅外光譜，可以將其導(dǎo)出到業(yè)內(nèi)FTIR數(shù)據(jù)庫中以鑒別樣品成分。

環(huán)境控制

nanoIR3提供多種樣品環(huán)境控制功能，包括對溫度、濕度以及多種氣體氛圍的控制。