BRUKER PROBE的介紹
發(fā)布日期：2021-11-23 16:50:26
BRUKER PROBE是一種創(chuàng)新設(shè)計(jì)，可以提供更高的重復(fù)性和分辨率。步計(jì)這一性能的提升，達(dá)到了布魯克40年來(lái)的技術(shù)革新，進(jìn)一步鞏固了其在行業(yè)中的地位。無(wú)論是用于R&D還是產(chǎn)品測(cè)量，BRUKER PROBE都將能夠通過(guò)其在研究工作中的廣泛使用，實(shí)現(xiàn)更強(qiáng)大的功能、更簡(jiǎn)單的操作，以及更完善的檢測(cè)過(guò)程和數(shù)據(jù)采集。

BRUKER PROBE的主要特點(diǎn):

1.較小的彈簧常數(shù)更適合測(cè)量軟樣品。

2N/m的彈簧常數(shù)小于交流模式硅懸臂梁的彈簧常數(shù)，適用于觀察軟樣品的表面形貌和粘彈性。

2.用低電阻率硅測(cè)量表面電位

懸臂襯底由摻氮硅制成，表面電阻為0.01-0.02ω·cm(為其他襯底的1/200)。這可用于測(cè)量表面電位和其他應(yīng)用。

3.理想情況下，指向終端探針。

BRUKER PROBE的頂點(diǎn)是理想的點(diǎn)端接。

從正面看，四面體探針顯示出良好的對(duì)稱性?？紤]幾何特征，選擇快速掃描(X)方向。檢查掃描線輪廓和頂點(diǎn)的放大圖。

這就是我們今天說(shuō)的。BRUKER PROBE是一款創(chuàng)新的產(chǎn)品設(shè)計(jì)，其所有強(qiáng)大的功能都是共享的。希望對(duì)大家以后使用這個(gè)設(shè)備有所幫助。

武漢瑞德儀科技有限公司主營(yíng)：BRUKER PROBE、AFM探針、超尖探針、納米壓痕探針、顯微鏡探針針尖、掃描探針顯微鏡探針、導(dǎo)電探針、原子力顯微鏡探針、原子力探針、金剛石探針。