衍射儀和散射系統(tǒng)
- 產(chǎn)品品牌: 布魯克 Bruker
- 產(chǎn)品產(chǎn)地: 德國
- 應(yīng)用領(lǐng)域: 材料特性的無損表征--- 從基礎(chǔ)研究到工業(yè)質(zhì)控的任何材料進行詳細分析
- 產(chǎn)品簡介: 支持全面擴展的模塊化系統(tǒng),可滿足您在環(huán)境和非環(huán)境條件下對粉末樣品、塊狀樣品和薄膜樣品的分析需求
一、亮點:
D8 ADVANCE:XRD、PDF和SAXS分析的解決方案
1)0D-1D-2D------所有維度都非常優(yōu)質(zhì)的數(shù)據(jù)質(zhì)量
不論在何種應(yīng)用場合,它都是您的最佳探測器:最高的計數(shù)率、動態(tài)范圍和能量分辨率
2)DAVINCI------面向未來的多用途
采用了開放式設(shè)計并具有不受約束的模塊化特性的同時,將用戶友好性、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致,這就是布魯克DAVINCI設(shè)計
3)≤0.01°2?------峰位精度
布魯克獨家提供基于NIST標(biāo)樣剛玉(SRM 1976c)整個角度范圍內(nèi)的準(zhǔn)直保證
4)D8 ADVANCE—面向未來的X射線衍射解決方案
基于獨一無二的D8衍射儀系列平臺的D8 ADVANCE,是所有X射線粉末衍射和散射應(yīng)用的理想之選,如:
- 典型的X射線粉末衍射(XRD)
- 對分布函數(shù)(PDF)分析
- 小角X射線散射(SAXS)和廣角X射線散射(WAXS)
由于具有出色的適應(yīng)能力,僅使用D8 ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。
- 無論是新手用戶還是專家用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的:配置儀器時,免工具、免準(zhǔn)直,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。
- 不僅如此——布魯克獨家提供基于NIST標(biāo)樣剛玉(SRM1976)的準(zhǔn)直保證。目前,在峰位、強度和分辨率方面,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8 ADVANCE。
二、D8 ADVANCE 規(guī)格
D8 ADVANCE 規(guī)格
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功能 | 規(guī)格 | 優(yōu)勢 |
TRIO 光路和TWIN光路 | 軟件按鈕切換:
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動態(tài)光束優(yōu)化 | 動態(tài)同步:
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LYNXEYE XE-T |
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EIGER2 R | Dectris 公司開發(fā)的基于混合光子計數(shù)技術(shù)的新一代探測器,支持多種模式(0D / 1D / 2D) |
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旋轉(zhuǎn)光管 | 在線焦斑和點焦斑應(yīng)用之間輕松快捷地進行免對準(zhǔn)切換 |
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自動進樣器 |
| 在反射和透射幾何中運行 |
D8 測角儀 | 帶獨立步進電機和光學(xué)編碼器的雙圓測角儀 |
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非環(huán)境條件 |
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三、應(yīng)用
- 物相定性分析
- 結(jié)晶度及非晶相含量分析
- 結(jié)構(gòu)精修及解析
- 物相定量分析
- 點陣參數(shù)精確測量
- 無標(biāo)樣定量分析
- 微觀應(yīng)變分析
- 晶粒尺寸分析
- 原位分析
- 殘余應(yīng)力
- 低角度介孔材料測量
- 織構(gòu)及PDF分析
- 薄膜掠入射
- 薄膜反射率測量
- 小角散射
四、特點
1)TWIN / TWIN 光路
布魯克獲得專利的TWIN-TWIN光路設(shè)計極大地簡化了D8 ADVANCE的操作,使之適用于多種應(yīng)用和樣品類型。為便于用戶使用,該系統(tǒng)可在4種不同的光束幾何之間進行自動切換。該系統(tǒng)無需人工干預(yù),即可在Bragg-Brentano粉末衍射幾何和不良形狀的樣品、涂層和薄膜的平行光束幾何以及它們之間進行切換,且無需人工干預(yù),是在環(huán)境下和非環(huán)境下對包括粉末、塊狀物體、纖維、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)在內(nèi)的所有類型的樣品進行分析的理想選擇。
2)動態(tài)光束優(yōu)化(DBO)
布魯克獨有的DBO功能為X射線衍射的數(shù)據(jù)質(zhì)量樹立了全新的重要基準(zhǔn)。馬達驅(qū)動發(fā)散狹縫、防散射屏和可變探測器窗口的自動同步功能,可為您提供無與倫比的數(shù)據(jù)質(zhì)量——尤其是在低2?角度時。除此之外,LYNXEYE全系列探測器均支持DBO:SSD160-2,LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。
3)LYNXEYE XE-T
LYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探測器的旗艦產(chǎn)品。它是目前市面上唯一一款可采集0D、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測器,適用于所有波長(從Cr到Ag),具有最高的計數(shù)率和最佳的角分辨率,是所有X射線衍射和散射應(yīng)用的理想選擇。
LYNXEYE XE-T具有優(yōu)于380 eV的能量分辨率,著實出色,是市面上性能最佳的熒光過濾器探測器系統(tǒng)。借助它,您可在零強度損失下對由銅輻射激發(fā)的鐵熒光進行100%過濾,而且無需金屬濾波片,因此數(shù)據(jù)也不會存在偽影,如殘余K?和吸收邊。同樣,也無需用到會消除強度的二級單色器。
布魯克提供獨有的LYNXEYE XE-T探測器保證:交貨時保證無壞道!
五、相關(guān)應(yīng)用圖片
1)材料可靠性鑒別(PMI)最為常見,這是因為其對原子結(jié)構(gòu)十分靈敏,而這無法通過元素分析技術(shù)實現(xiàn)。
2)方法包括EVA軟件半定量分析、DQUANT軟件面積法分析和DIFFRAC TOPAS軟件全譜擬合分析法。
3)可以在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測量同步,然后可以在DIFFRAC.EVA中顯示結(jié)果。
4)在DIFFRAC.TEXTURE軟件中,使用球諧函數(shù)和組分分析方法,生成極圖、取向分布函數(shù)(ODF)和體積定量分析。
5)在DIFFRAC.LEPTOS中分析鋼部件的殘余應(yīng)力:通過sin2psi方法,使用Cr輻射測量得到。
6)在DIFFRAC.LEPTOS中,對多層樣品的薄膜厚度、界面粗糙度和密度進行XRR分析。
7)在DIFFRAC.SAXS中,對EIGER2 R 500K通過2D模式收集的NIST標(biāo)樣SRM 8011 9 mm金納米顆粒進行粒度分析。