衍射儀和散射系統(tǒng)

D8 ADVANCE
  • 產(chǎn)品品牌: 布魯克 Bruker
  • 產(chǎn)品產(chǎn)地: 德國
  • 應(yīng)用領(lǐng)域: 材料特性的無損表征--- 從基礎(chǔ)研究到工業(yè)質(zhì)控的任何材料進行詳細分析
  • 產(chǎn)品簡介: 支持全面擴展的模塊化系統(tǒng),可滿足您在環(huán)境和非環(huán)境條件下對粉末樣品、塊狀樣品和薄膜樣品的分析需求

一、亮點:

D8 ADVANCEXRDPDFSAXS分析的解決方案

10D-1D-2D------所有維度都非常優(yōu)質(zhì)的數(shù)據(jù)質(zhì)量

不論在何種應(yīng)用場合,它都是您的最佳探測器:最高的計數(shù)率、動態(tài)范圍和能量分辨率

2DAVINCI------面向未來的多用途

采用了開放式設(shè)計并具有不受約束的模塊化特性的同時,將用戶友好性、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致,這就是布魯克DAVINCI設(shè)計

3≤0.01°2?------峰位精度

布魯克獨家提供基于NIST標(biāo)樣剛玉(SRM 1976c)整個角度范圍內(nèi)的準(zhǔn)直保證

4D8 ADVANCE—面向未來的X射線衍射解決方案

基于獨一無二的D8衍射儀系列平臺的D8 ADVANCE,是所有X射線粉末衍射和散射應(yīng)用的理想之選,如:

  • 典型的X射線粉末衍射(XRD
  • 對分布函數(shù)(PDF)分析
  • 小角X射線散射(SAXS)和廣角X射線散射(WAXS

由于具有出色的適應(yīng)能力,僅使用D8 ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。


  • 無論是新手用戶還是專家用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的:配置儀器時,免工具、免準(zhǔn)直,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。
  • 不僅如此——布魯克獨家提供基于NIST標(biāo)樣剛玉(SRM1976)的準(zhǔn)直保證。目前,在峰位、強度和分辨率方面,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8 ADVANCE。

二、D8 ADVANCE 規(guī)格

D8 ADVANCE 規(guī)格

 

功能

規(guī)格

優(yōu)勢

TRIO 光路和TWIN光路

軟件按鈕切換:

  • 馬達驅(qū)動發(fā)散狹縫(BB幾何)
  • 高強度Ka1,2平行光束
  • 高分辨率Ka1平行光束
  • 專利:US10429326US6665372、US7983389



  • 可在多達6種不同的光束幾何之間進行全自動化電動切換,無需人工干預(yù)
  • 是所有類型的樣品分析的理想之選,包括粉末、塊狀材料、纖維、片材和薄膜(非晶、多晶和外延


動態(tài)光束優(yōu)化

動態(tài)同步:


  • 馬達驅(qū)動發(fā)散狹縫
  • 馬達驅(qū)動防散射屏
  • 可變探測器窗口
  • 2?角度范圍:小于1度至>大于150



 


  • 數(shù)據(jù)幾乎不受空氣、儀器和樣品架散射的影響
  • 大大提高了檢測下限,可定量分析少量晶相和非晶相
  • 在較小的角度,具有無與倫比的性能,可對粘土、藥物、沸石、多孔材料及其他材料進行精確研究


 

LYNXEYE XE-T


  • 能量分辨率:<380 eV @ 8 KeV
  • 檢測模式:0D、1D、2D
  • 波長:CrCo、Cu、MoAg
  • 專利:EP1647840、EP1510811、US20200033275




  • 無需K?濾波片和二級單色器
  • 銅輻射即可100%過濾鐵熒光
  • 速度比傳統(tǒng)探測器系統(tǒng)快450
  • BRAGG 2D模式:使用發(fā)散的初級線束收集2D數(shù)據(jù)
  • 獨一無二的探測器保證:交貨時絕無壞道


EIGER2 R

Dectris 公司開發(fā)的基于混合光子計數(shù)技術(shù)的新一代探測器,支持多種模式(0D / 1D / 2D


  • 在步進掃描、連續(xù)掃描和高級掃描模式中無縫集成0D、1D2D檢測
  • 符合人體工程學(xué)的免對準(zhǔn)探測器旋轉(zhuǎn)功能,可優(yōu)化γ2?角度范圍
  • 使用完整的探測器視野、免工具全景衍射光束光學(xué)系統(tǒng) 
  • 連續(xù)可變的探測器位置,以平衡角度范圍和分辨率


旋轉(zhuǎn)光管

在線焦斑和點焦斑應(yīng)用之間輕松快捷地進行免對準(zhǔn)切換


  • 無需斷開電纜或水管,無需拆卸管道
  • DAVINCI設(shè)計:全自動檢測和配置聚焦方向


自動進樣器


  • FLIPSTICK9個樣品
  • AUTOCHANGER90個樣品


在反射和透射幾何中運行

D8 測角儀

帶獨立步進電機和光學(xué)編碼器的雙圓測角儀


  • 布魯克獨有的準(zhǔn)直保證,確保了無與倫比的準(zhǔn)確性和精確度
  • 絕對免維護的驅(qū)動機構(gòu)/齒輪裝置,終身潤滑


非環(huán)境條件


  • 溫度:從-4K2500K
  • 壓力:10-?mbar100 bar
  • 濕度:5%至95



  • 在環(huán)境和非環(huán)境條件下進行研究
  • DIFFRAC設(shè)計助您輕松更換樣品臺


 

三、應(yīng)用

  • 物相定性分析
  • 結(jié)晶度及非晶相含量分析
  • 結(jié)構(gòu)精修及解析
  • 物相定量分析
  • 點陣參數(shù)精確測量
  • 無標(biāo)樣定量分析
  • 微觀應(yīng)變分析
  • 晶粒尺寸分析
  • 原位分析
  • 殘余應(yīng)力
  • 低角度介孔材料測量
  • 織構(gòu)及PDF分析
  • 薄膜掠入射
  • 薄膜反射率測量
  • 小角散射

四、特點

1TWIN / TWIN 光路

布魯克獲得專利的TWIN-TWIN光路設(shè)計極大地簡化了D8 ADVANCE的操作,使之適用于多種應(yīng)用和樣品類型。為便于用戶使用,該系統(tǒng)可在4種不同的光束幾何之間進行自動切換。該系統(tǒng)無需人工干預(yù),即可在Bragg-Brentano粉末衍射幾何和不良形狀的樣品、涂層和薄膜的平行光束幾何以及它們之間進行切換,且無需人工干預(yù),是在環(huán)境下和非環(huán)境下對包括粉末、塊狀物體、纖維、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)在內(nèi)的所有類型的樣品進行分析的理想選擇。

2)動態(tài)光束優(yōu)化(DBO

布魯克獨有的DBO功能為X射線衍射的數(shù)據(jù)質(zhì)量樹立了全新的重要基準(zhǔn)。馬達驅(qū)動發(fā)散狹縫、防散射屏和可變探測器窗口的自動同步功能,可為您提供無與倫比的數(shù)據(jù)質(zhì)量——尤其是在低2?角度時。除此之外,LYNXEYE全系列探測器均支持DBOSSD160-2,LYNXEYE-2LYNXEYE XE-T

3LYNXEYE XE-T

LYNXEYE XE-TLYNXEYE系列探測器的旗艦產(chǎn)品。它是目前市面上唯一一款可采集0D1D2D數(shù)據(jù)的能量色散探測器,適用于所有波長(從CrAg),具有最高的計數(shù)率和最佳的角分辨率,是所有X射線衍射和散射應(yīng)用的理想選擇。

 

LYNXEYE XE-T具有優(yōu)于380 eV的能量分辨率,著實出色,是市面上性能最佳的熒光過濾器探測器系統(tǒng)。借助它,您可在零強度損失下對由銅輻射激發(fā)的鐵熒光進行100%過濾,而且無需金屬濾波片,因此數(shù)據(jù)也不會存在偽影,如殘余K?和吸收邊。同樣,也無需用到會消除強度的二級單色器。

布魯克提供獨有的LYNXEYE XE-T探測器保證:交貨時保證無壞道!

 五、相關(guān)應(yīng)用圖片


1)材料可靠性鑒別(PMI)最為常見,這是因為其對原子結(jié)構(gòu)十分靈敏,而這無法通過元素分析技術(shù)實現(xiàn)。



2)方法包括EVA軟件半定量分析、DQUANT軟件面積法分析和DIFFRAC TOPAS軟件全譜擬合分析法。



3)可以在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測量同步,然后可以在DIFFRAC.EVA中顯示結(jié)果。



4)在DIFFRAC.TEXTURE軟件中,使用球諧函數(shù)和組分分析方法,生成極圖、取向分布函數(shù)(ODF)和體積定量分析。



5)在DIFFRAC.LEPTOS中分析鋼部件的殘余應(yīng)力:通過sin2psi方法,使用Cr輻射測量得到。



6)在DIFFRAC.LEPTOS中,對多層樣品的薄膜厚度、界面粗糙度和密度進行XRR分析。



7)在DIFFRAC.SAXS中,對EIGER2 R 500K通過2D模式收集的NIST標(biāo)樣SRM 8011 9 mm金納米顆粒進行粒度分析。