原子力顯微鏡
- 產(chǎn)品品牌: 布魯克 Bruker
- 產(chǎn)品產(chǎn)地: 德國
- 應用領域: 半導體、納米材料、通訊、生物學、數(shù)據(jù)儲存、食品、化學、地質、能源、環(huán)境等
- 產(chǎn)品簡介: 最超值的高性能 AFM
Dimension Edge?原子力顯微鏡采用布魯克專利的PeakForce Tapping ® 技術,提供同類產(chǎn)品中,高水平的原子力顯微鏡 (AFM) 性能、功能和配件?;?Dimension Icon 平臺開發(fā),Dimension Edge系統(tǒng)的設計具有低漂移、低噪音的特點,大大提高了數(shù)據(jù)獲取速度和可靠性,使用這臺全新的儀器,幾分鐘時間即可獲得高質量、可發(fā)表的專業(yè)數(shù)據(jù)。另外,其集成的可視化反饋和預配置設置,使其如專家現(xiàn)場操作一樣,簡單方便,測量結果高度一致。Dimension Edge最先進的大樣品 AFM 功能和技術可為每個用戶的多種應用環(huán)境提供選擇。
一、亮點
1) 模塊化------顯微鏡和電子系統(tǒng)
以中等成本提供高圖像保真度和研究靈活性。
2) 內置------訪問信號通路
支持自定義測量和擴展功能。
3) 集成------大樣品臺控制系統(tǒng)
提供快速的樣品測量定位導航和高效的多點位測量。
二、特點
1)特征------閉環(huán)精度
該系統(tǒng)的核心配件是布魯克著名的閉環(huán)掃描器。該掃描器采用溫度補償位置傳感器,由模塊化設計的低噪聲控制電子器件驅動,可將探針掃描的閉環(huán)噪聲級別降低至單個化學鍵長度的量級。
2) 大樣品平臺
Dimension Edge 樣品臺不僅由馬達控制,可進行編程實現(xiàn)高效多點測量,還允許您直接在 AFM 掃描器下同時放置更多類型的樣品,減少樣品放置時間。探針-樣品交匯處的物理開放性,使您能夠更直接地觀察樣品器件的幾何結構,以及器件的電氣連接或放置其他定制的實驗附件。
3) 自動成像優(yōu)化
Dimension Edge 采樣階段不僅可進行電動和可編程,可進行高效的多點測量,還允許您直接在 AFM 掃描儀下安裝更多類型的樣品,同時使用更少的制備時間。對探針-樣品交匯點的物理開放訪問能夠更直接地調查具有幾何挑戰(zhàn)性的器件結構,以及電氣連接或其他定制實驗附件的附件的附件。
三、應用
AFM 模式------用AFM拓展您的應用
憑借一整套出色的AFM成像模式,布魯克能為您每項研究提供適用的 AFM 技術。
基于核心成像模式(接觸模式和輕敲模式),布魯克提供的全套 AFM測試模式,允許用戶探測樣品的電學、磁性等豐富性能。布魯克獨創(chuàng)的全新的峰值力輕敲技術作為一種新的核心成像模式,已被應用到多種測量模式中,能同時提供形貌、電學和力學性能數(shù)據(jù)。
四、Dimension Edge數(shù)據(jù)示例
1)Kerf結構的閉環(huán)形貌圖,顯示雙嵌入式結構中的內接觸孔。Dimension掃描器和布魯克FIB探針的配合使用,能對此具有挑戰(zhàn)性的幾何結構進行成像,且不會損壞探針。
2)使用Dark Lift SCM對SRAM樣品進行精確的2D摻雜分析。圖像大小15um.
3)Dimension Edge高性能AFM能夠觀察小麥谷物成分中生物聚合物的納米級結構,從而更好地了解其結構與谷物產(chǎn)品宏觀特性的關系。圖像大小90 um.
4)聚合物刷的智能成像模式(ScanAsyst)掃描圖像。圖像大小200nm
5)HOPG上C36H74烷的閉環(huán)相位圖像。清晰可見的片層結構間距,與C36H74鏈的長度間距(±4.5nm)一致。圖像大小130nm
6)閉環(huán)相位圖像。顯示了聚(苯乙烯b-丁二烯b-苯乙烯)三聚體中的微相分離。圖像大小為2um。
7)緩沖溶液中DNA的原位智能模式(ScanAsyst)掃描圖像。圖像大小500nm。
8)Dimension Edge提供一整套納米機力學性能和電學模式:相位成像、力譜、壓電響應力顯微鏡、導電AFM和開爾文探針力顯微鏡等。結合獨特的設計以實現(xiàn)最高空間分辨率及原子分辨率成像。
9)Dimension Edge提供全套電學模式:利用布魯克的專利Lift Mode,實現(xiàn)電場梯度成像的EFM,靈敏的功函數(shù)測量的KPFM,無假象導電圖測量的Dark lift CAFM模式等。
10)接觸模式云母晶格原子像。圖像大小1.5nm。
11)圖案藍寶石底板 (PSS)是LED制造商用于提高光輸出和整體設備效率的一種技術。PSS是一種藍寶石晶圓,其周期圖案已刻在其中。圖案的形狀各不相同,但以圓錐形、半球形、金字塔形或其他類似結構為主。這些結構可用于改變發(fā)射光子的角度,減少總內部反射,從而提高效率。Edge-PSS AFM可提供控制PSS制程計量,包括特征高度、寬度和角度測量,同時提供完整的3D輪廓。Edge-PSS能滿足PSS供應商和LED制造商縮小結構尺寸、提高產(chǎn)品效率的需求。