原子力顯微鏡

MultiMode 8
  • 產(chǎn)品品牌: 布魯克 Bruker
  • 產(chǎn)品產(chǎn)地: 德國
  • 應(yīng)用領(lǐng)域: 半導(dǎo)體、納米材料、通訊、生物學(xué)、數(shù)據(jù)儲存、食品、化學(xué)、地質(zhì)、能源、環(huán)境等，即物理、化學(xué)、材料、電子以及生命科學(xué)等各個領(lǐng)域
  • 產(chǎn)品簡介: MultiMode? 測試平臺作為歷史悠久的經(jīng)典機(jī)型，由于其卓越的分辨率與性能享譽(yù)至今。Multimode 8-HR 原子力顯微鏡通過高速PeakForce Tapping ?、增強(qiáng)的 PeakForce QNM?、全新的 FASTForce Volume和獨(dú)家布魯克探針技術(shù)，在成像速度、分辨率和納米機(jī)械性能方面有了進(jìn)一步的改進(jìn)，使得綜合性能顯著提升

一、亮點(diǎn)

MultiMode®是世界上最受歡迎的掃描探針顯微鏡，得到客戶的高度認(rèn)可，迄今為止數(shù)以萬計(jì)的MultiMode®掃描探針顯微鏡已經(jīng)在全球成功安裝使用。其世界領(lǐng)先的超高分辨率，完備的儀器性能，無與倫比的多功能性，以及得到充分驗(yàn)證的完美表現(xiàn)和實(shí)驗(yàn)可靠性，奠定了其在AFM領(lǐng)域的領(lǐng)導(dǎo)地位。Bruker作為生命科學(xué)和分析儀器領(lǐng)域出色的領(lǐng)導(dǎo)者，始終致力于為用戶提供最好的解決方案，總結(jié)成功的經(jīng)驗(yàn)，不斷創(chuàng)新，推出了MultiMode®系列的最新型號MultiMode8。使用Bruker最新的專利技術(shù)Peak Force Tapping掃描模式，獲得更多的樣品信息，操作更簡單，性能更優(yōu)越，大大提高了工作效率。

1）簡便易行，輕松獲得專業(yè)結(jié)果


  • 使用最新的自動掃描成像模式ScanAsyst?，研究人員不必再去繁瑣地調(diào)整Setpoint、反饋增益和掃描速度等參數(shù)，不論是在大氣下還是在溶液中，都可以輕松獲得高質(zhì)量圖像。
  • 在溶液環(huán)境下掃描更簡便易行，它無需進(jìn)行尋找探針的共振頻率，ScanAsyst始終直接控制針尖樣品間的作用力，這樣可以消除Setpoint。


2）功能強(qiáng)大的定量成像模式


  • Bruker專利的新型成像模式PeakForce? QNM?，可以對材料納米尺度的力學(xué)性質(zhì)進(jìn)行定量檢測，在正常的掃描速率下獲得高分辨率的材料粘附力和彈性模量圖像。與傳統(tǒng)的相位成像和某 些 廠 家 的 多 頻 技 術(shù) 不 同 的 是 ， 使用Peakforce?  QNM?模式可獲得精確、定量的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。
  • PeakForce TUNA?模塊，能夠定量測量樣品的導(dǎo)電特性，這是傳統(tǒng)的導(dǎo)電模式所不能實(shí)現(xiàn)的。
  • 全新推出ScanAsyst-HR, 可以在MultiMode8上實(shí)現(xiàn)快速掃描模式。與傳統(tǒng)的AFM相比，在其速度提高6倍時仍不損失圖像分辨率，獲得超高分辨的AFM圖像。最快掃描速度，可比傳統(tǒng)的AFM提高20倍。


3）具有最高的分辨率和測試性能


  • 迄今為止，利用MultiMode系列原子力顯微鏡，已發(fā)表大量高水平論文，幫助科學(xué)家們解決了諸多重大前沿科研問題。MultiMode8采用結(jié)構(gòu)緊湊的剛性設(shè)計(jì)，即使樣品的測試難度大，測試條件極為苛刻，也能實(shí)現(xiàn)低系統(tǒng)噪音，獲得超高分辨率的圖像。
  •  NanoScope®VI控制器提供業(yè)界最低的系統(tǒng)噪音和無可比擬的超高帶寬，大大提高了數(shù)據(jù)分析能力，適用于更多的研究領(lǐng)域。
  • Bruker獨(dú)創(chuàng)的Peak Force Tapping® 技術(shù)，精確控制針尖與樣品的作用力，可遠(yuǎn)低于TappingMode?所需要的力。


4）功能完備，適用于各研究領(lǐng)域


  • 大氣或者溶液環(huán)境中，MultiMode8都能夠完成樣品檢測，以其超高分辨率和卓越完備的功能，被廣泛應(yīng)用于物理、化學(xué)、材料、電子以及生命科學(xué)等各個領(lǐng)域。
  • 在MultiMode8上可選配溫度調(diào)節(jié)和環(huán)境控制附件。加熱到250°C，冷卻至-35°C，或在水蒸氣和氧氣含量小于1ppm的手套箱中，都可以實(shí)現(xiàn)敏感樣品的檢測和成像。
  • MultiMode8基本操作模式的基礎(chǔ)上選配不同功能的附件，可在高分辨成像的同時，獲得樣品的力學(xué)、電學(xué)、磁學(xué)、熱力學(xué)等各項(xiàng)性能指標(biāo)。


5）操作高效簡便，數(shù)據(jù)精確可靠


  •  MultiMode系列原子力顯微鏡不斷創(chuàng)新，追求卓越，吸引越來越多的科研人員選擇這套系統(tǒng)進(jìn)行研究工作，MultiMode系列產(chǎn)品成為世界用戶最多，最受歡迎的原子力顯微鏡。
  • 除了產(chǎn)品本身強(qiáng)大的測試功能，布魯克還在全球配備應(yīng)用和技術(shù)支持工程師，解決客戶實(shí)際工作中的各類問題 。



二、MultiMode 8 HR 數(shù)據(jù)庫


1）聚(3-六基乙基苯) (P3HT)有機(jī)導(dǎo)電納米線的PF TUNA電流圖,電壓為3V。掃描范圍為3um ,電流從0到80 pA范圍內(nèi)變化。

 

2）五氧化二氨薄膜的輕敲圖像，掃描范圍為5um。薄膜用作鋰微電池中的正極,并在原始狀態(tài)(左)、第一次放電后(中間)和隨后充電后(右)進(jìn)行測試。充電/放電循環(huán)不可逆地改變了薄膜結(jié)構(gòu)。圖片由法國波城大學(xué)的B. leutot提供。

 

3）用PeakForce HR表征間同立構(gòu)聚丙烯(SPP)和聚乙烯氧化物(PEO)共混物。掃描范圍3um,掃描速度5Hz。

 

4）PeakForce QNM圖像揭示了空氣中聚乙烯晶體的分子缺陷。從單個分子的形貌(A)以及粘附力(B)和剛度(C)圖可以看出,缺陷位點(diǎn)剛度顯著降低。圖像大小10nm。

 

5）此模量圖揭示了ULDPE連接層與截面包裝材料的PS/LDPE密封層之間的微妙過渡。掃描范圍為3um

 

6）通過PeakForce TUNA獲得的碳納米管形貌(A)和電流(B)圖。圖像大小1 um。

 

7）使用峰值力輕敲得到云母表面原子級分辨率的形貌和粘附力。

 

8）使用PF QNM得到的聚二基硅氧烷(PDES)模量圖。在3um的掃描范圍內(nèi),模量從1.5到15 MPa內(nèi)變化。