一、亮點

1）600kcps------高分析通量

最佳分析速度

2）121eV------峰值分辨率

輕元素分析的最佳能量分辨率

3）4------EDS 探測器組合

使用多個探測器或探測器陣列實現(xiàn)最大信號通量

4）具有細(xì)管徑技術(shù)的EDS，適合您的 SEM、FIB 和 EPMA

再一次，布魯克為掃描電子顯微鏡的能量分散光譜設(shè)定了性能和功能標(biāo)準(zhǔn)。新一代 QUANTAX EDS 采用XFlash® 6探測器系列，探測器的有效面積為 10 至 100 mm2。

二、優(yōu)勢：

第 6 代 EDS 提供硬件和軟件技術(shù)，以實現(xiàn)最快、最可靠的結(jié)果：

1）節(jié)省時間 - 擁有細(xì)管徑技術(shù)的新型探測器、大面積硅漂移探測器、可控制多個探測器以及具有高性能的脈沖處理器，更快地完成工作

2）節(jié)省工作量 - 電動馬達(dá)控制探測器移動和迷你輕質(zhì)的設(shè)計，讓探測器使用起來更加輕松

3）獲得更高的精度 - 最佳能量分辨率提供最高質(zhì)量的譜圖，非常適合用于精確分析

4）獲得更棒的可靠性 - 世界上最全面的原子數(shù)據(jù)庫確保最可靠的低能量峰值識別

5）獲得更高的精度 - 最先進(jìn)的定量算法、基于標(biāo)樣的定量方法和獨(dú)特的有標(biāo)樣和無標(biāo)樣定量組合提供最高精度的定量結(jié)果

6）提升元素分析效率！

       a) 布魯克 EDS 可與每一款電子顯微鏡適配的安裝、并提供無與倫比的速度和精度，這使得布魯克 EDS 為任何實驗室提供了最強(qiáng)大的 EDS 系統(tǒng)。此系統(tǒng)包括光譜成像，使微納米分析不再是一個挑戰(zhàn)。

       b) XFlash® 系列還為 TEM 和 STEM 提供優(yōu)化解決方案，以及獨(dú)特的XFlash® FlatQUAD，一種用于困難樣品表征的探測器。

       c) 此外，EDS 可以與 EBSD、Micro-XRF 和 WDS 的無縫集成一款軟件中，布魯克的 ESPRIT 為任何 SEM、FIB 和 EPMA 提供了最全面的分析平臺。

三、相關(guān)應(yīng)用圖片