HYPERION系列顯微鏡集布魯克公司25年紅外顯微鏡研發(fā)、生產經驗之大成，以其在光學元器件、機械加工和電子電路等方面的高質量設計成就了無以倫比的高穩(wěn)定性和可靠性。HYPERION模塊化的設計可按您的需求進行定制，以滿足各種有挑戰(zhàn)性的R&D研究工作。其應用領域非常廣泛，覆蓋了材料科學研究、聚合物、化工產品、法庭刑偵、藝術品保護和生命科學等。HYPERION顯微鏡擁有各種對比照明增強的手段、各種專用的紅外鏡頭及化學成像功能，可以使用戶輕松、高效地完成各種高靈敏度的顯微分析。

• 最高的空間分辨率，僅受限于光學衍射極限
• 最高的靈敏度，即使采用較高的空間分辨率測量
• 衰減全反射（ATR）鏡頭，內置壓力傳感器，高精度及高穩(wěn)定性的機械裝置用于精準定位晶體位置
• 專用的掠角(GAO)鏡頭，雙反射光路設計，用于分析金屬表面的超薄膜
• 全自動的FT-IR面掃描功能，適用于各種測量模式
• 高度集成化的光譜軟件用于數據的采集、分析及歸檔
• FT-IR成像功能采取zei先進的焦平面陣列（FPA）檢測器技術

樣品可見光觀察

使用紅外顯微鏡對任何何樣品進行紅外分析之前，需要先確定樣品上您感興趣的區(qū)域。但是，很多顯微樣品在可見光觀察模式下對比度不強，因此，為樣品特征區(qū)的選定增加了難度。HYPERION系列顯微鏡擁有多種先進技術用于增強樣品在透射和反射模式下可見光的對比度。

為了獲取某一類樣品的zei優(yōu)化可視圖像，HYPERION裝配了一個鏡頭架和一系列鏡頭。通常情況下，首先使用對比虹膜技術（柯勒式孔徑）來增強樣品的觀察，此外，可以使用旋轉的偏振片在透射和反射模式下對雙折射樣品進行區(qū)分；對于散射較強的樣品，可以使用暗場照明；對于含有熒光物質或者熒光標記的樣品，HYPERION也可以選擇裝配熒光照明附件。自動聚焦功能用于觀察層狀樣品的表面。

觀察系統

樣品的CCD圖像不僅可以在計算機的OPUS軟件上顯示，也可以顯示在顯微鏡前面板的LCD上（HYPERION2000/3000)。該LCD顯示屏使得定位樣品和識別待測位變得更加方便。所有的可見光圖像將與測量譜圖、以及他們的采樣位置一起被保存在一個文件中。HYPERION標準配置一個雙筒目鏡，可以提供更高質量的可見光圖像。因此，即使樣品具有較弱的可見對比圖像，您依然可以輕松地找到待測區(qū)域。

采樣靈活性

通常情況下，對于FT-IR顯微鏡的透射分析實驗，樣品需要被切割成5-15微米厚的薄片。如果樣品沉積在高反射率的基底上，可以采用反射模式測量。但是，有很多樣品既不透明，反射率又不高，這些樣品需要采用衰減全反射（ATR）模式測量。正因如此，ATR鏡頭的質量和通用性對大多數應用是至關重要的。反射表面的超薄層，甚至是單分子薄膜，可以通過掠角反射鏡頭（GAO）來獲取紅外信息。

光譜范圍

HYPERION的光譜范圍可以從中紅外擴展到近紅外（NIR），甚至到可見譜區(qū)（VIS，達到25,000cm-1），也可以擴展到遠紅外波段（FIR，大約80cm-1）。為了覆蓋最寬的光譜范圍，用戶可以選擇不同的檢測器并可由用戶自行更換。HYPERION可以同時安裝兩個檢測器，這兩個檢測器的相互切換可通過軟件操作完成。

樣品臺

HYPERION 1000配置手動xy樣品臺；HYPERION2000和3000配置高精準度的自動xy樣品臺。此外，用戶可以選配其他樣品臺，如可更換的、可旋轉的、可變溫的（-196 到600 °C）、可控濕度的、可做發(fā)射實驗的樣品臺等。

HYPERION的設計理念旨在實現在zei高空間分辨率下仍能具有最高的靈敏度。紅外光的光路為共聚焦設計，無論是透射還是反射模式，孔徑光闌均被獨立安裝在樣品前和樣品后的等距平面上。HYPERION紅外顯微鏡的空間分辨率僅受限于入射光的物理衍射極限。

HYPERION的標準配置是一個透明的刀口光闌，用戶可以選擇金屬刀口光闌、虹膜光闌及光闌轉輪以及軟件控制的全自動刀口光闌。所有的光闌可被輕松替換。