導(dǎo)電探針的優(yōu)勢(shì)是什么？
發(fā)布日期：2022-03-18 09:39:21
導(dǎo)電探針可以測(cè)量的化學(xué)成分的元素范圍一般從原子序數(shù)12(Mg)到92(U)，原子序數(shù)大于22的元素可以在空氣通道的X射線光譜儀中測(cè)量。電子探針的靈敏度低于X射線熒光光譜。因?yàn)殡娮犹结榅射線的基礎(chǔ)值比后者高，但電子探針的靈敏度比其他儀器高。另外，后期生產(chǎn)的儀器可以用作X射線后向散射照片、透視照片?？梢酝瑫r(shí)使用透射電鏡、電子衍射、電子熒光觀察等。
導(dǎo)電探針的優(yōu)勢(shì)是什么？
1、可以進(jìn)行微區(qū)分析。可以分析多個(gè)m ^ 3內(nèi)部元素的成分。
2、可以進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)分析?？梢灾苯臃治龃髽颖局械男^(qū)域，而無(wú)需將分析對(duì)象從樣本中取出。電子顯微鏡和電子探針相結(jié)合，可以連接顯微鏡觀察到的顯微組織和元素成分。
3、廣泛的分析范圍。
4.其中光譜：Be~U，能譜：na ~ u。
導(dǎo)電探針的功能和特性是什么？
電子探針可以對(duì)樣品中較小區(qū)域(微米級(jí))的化學(xué)組成進(jìn)行定性或定量分析?？梢赃M(jìn)行點(diǎn)、線掃描(獲取層成分分布信息)、面掃描分析(獲取成分面分布圖像)。還可以進(jìn)行全自動(dòng)部署(預(yù)設(shè)9999測(cè)試點(diǎn))定量分析。電子探針技術(shù)由于操作快速簡(jiǎn)便(對(duì)于比較復(fù)雜的化學(xué)分析方法)，實(shí)驗(yàn)結(jié)果的解釋直接，分析過(guò)程不損傷樣品，測(cè)量精度高等優(yōu)點(diǎn)，在冶金、地質(zhì)、電子材料、生物、醫(yī)學(xué)、考古等領(lǐng)域得到了越來(lái)越廣泛的應(yīng)用，是礦物測(cè)試分析和樣品成分分析的重要工具。
導(dǎo)電探針的主要用途是什么？
電子探針也稱為微區(qū)X射線光譜分析器、X射線微分析器。其原理是利用聚焦的高能電子束轟擊固體表面，使被轟擊的元素刺激特征X射線，并根據(jù)其波長(zhǎng)和強(qiáng)度對(duì)固體表面的微區(qū)域進(jìn)行定性和定量分析。主要用于分析固體物質(zhì)表面的小顆?；蛐^(qū)域，范圍直徑約為1m。分析因素從原子序數(shù)3(鋰)到92(鈾)?？梢詮?0-14到10-15g。近年來(lái)形成了掃描電鏡-顯微石器的聯(lián)合裝置，通過(guò)觀察微區(qū)域的形態(tài)，可以逐點(diǎn)分析標(biāo)本的化學(xué)成分和結(jié)構(gòu)。廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、冶金、材料、水泥、熟料研究等部門(mén)。
電子探針一般對(duì)樣品表面的光澤質(zhì)量要求很高，大小方面也有要求。具體的樣品準(zhǔn)備要求如下：
(1)光、薄片大?。罕∑笮?8.0 5毫米x 26.0 5毫米，射線大小為直徑29毫米的圓形射線。
(2)表面平整干凈。對(duì)于表面不干凈的樣品，需要細(xì)致的拋光。(3)拋光后或不需要拋光的薄片需要樣品者用炭筆在薄片上圈出大致的分析位置，并標(biāo)明路徑，以便在電子顯微鏡下找到。注意，繞圈時(shí)不要用手指觸摸薄表面。為了避免污染。
(4)確定位置后，將光、薄片交給實(shí)驗(yàn)室工作人員，進(jìn)行碳噴霧處理。
導(dǎo)電探針的優(yōu)勢(shì)是什么？
1、可以進(jìn)行微區(qū)分析。可以分析多個(gè)m ^ 3內(nèi)部元素的成分。
2、可以進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)分析?？梢灾苯臃治龃髽颖局械男^(qū)域，而無(wú)需將分析對(duì)象從樣本中取出。電子顯微鏡和電子探針相結(jié)合，可以連接顯微鏡觀察到的顯微組織和元素成分。
3、廣泛的分析范圍。
4.其中光譜：Be~U，能譜：na ~ u。
導(dǎo)電探針的功能和特性是什么？
電子探針可以對(duì)樣品中較小區(qū)域(微米級(jí))的化學(xué)組成進(jìn)行定性或定量分析?？梢赃M(jìn)行點(diǎn)、線掃描(獲取層成分分布信息)、面掃描分析(獲取成分面分布圖像)。還可以進(jìn)行全自動(dòng)部署(預(yù)設(shè)9999測(cè)試點(diǎn))定量分析。電子探針技術(shù)由于操作快速簡(jiǎn)便(對(duì)于比較復(fù)雜的化學(xué)分析方法)，實(shí)驗(yàn)結(jié)果的解釋直接，分析過(guò)程不損傷樣品，測(cè)量精度高等優(yōu)點(diǎn)，在冶金、地質(zhì)、電子材料、生物、醫(yī)學(xué)、考古等領(lǐng)域得到了越來(lái)越廣泛的應(yīng)用，是礦物測(cè)試分析和樣品成分分析的重要工具。
導(dǎo)電探針的主要用途是什么？
電子探針也稱為微區(qū)X射線光譜分析器、X射線微分析器。其原理是利用聚焦的高能電子束轟擊固體表面，使被轟擊的元素刺激特征X射線，并根據(jù)其波長(zhǎng)和強(qiáng)度對(duì)固體表面的微區(qū)域進(jìn)行定性和定量分析。主要用于分析固體物質(zhì)表面的小顆?；蛐^(qū)域，范圍直徑約為1m。分析因素從原子序數(shù)3(鋰)到92(鈾)?？梢詮?0-14到10-15g。近年來(lái)形成了掃描電鏡-顯微石器的聯(lián)合裝置，通過(guò)觀察微區(qū)域的形態(tài)，可以逐點(diǎn)分析標(biāo)本的化學(xué)成分和結(jié)構(gòu)。廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、冶金、材料、水泥、熟料研究等部門(mén)。
電子探針一般對(duì)樣品表面的光澤質(zhì)量要求很高，大小方面也有要求。具體的樣品準(zhǔn)備要求如下：
(1)光、薄片大?。罕∑笮?8.0 5毫米x 26.0 5毫米，射線大小為直徑29毫米的圓形射線。
(2)表面平整干凈。對(duì)于表面不干凈的樣品，需要細(xì)致的拋光。(3)拋光后或不需要拋光的薄片需要樣品者用炭筆在薄片上圈出大致的分析位置，并標(biāo)明路徑，以便在電子顯微鏡下找到。注意，繞圈時(shí)不要用手指觸摸薄表面。為了避免污染。
(4)確定位置后，將光、薄片交給實(shí)驗(yàn)室工作人員，進(jìn)行碳噴霧處理。