原子力顯微鏡探針的優(yōu)勢(shì)？
發(fā)布日期：2022-09-26 13:36:36
原子力顯微鏡探針在生活中使用的也都是比較多的。下面就為大家來(lái)介紹下原子力顯微鏡探針的優(yōu)勢(shì)？如果你對(duì)這個(gè)話題也感興趣的話，那隨著小編一起往下看吧，希望你在看到以后能在挑選的時(shí)候帶來(lái)一些更好的幫助吧。
原子力顯微鏡探針的出現(xiàn)無(wú)疑對(duì)納米技術(shù)的發(fā)展起到了推動(dòng)作用。這里需要了解的是以原子力顯微鏡為代表的掃描探針顯微鏡，原子力顯微鏡探針是一系列利用小探針掃描樣品表面，從而提供高倍率觀察的顯微鏡的總稱。事實(shí)上，我們今天所說(shuō)的原子力顯微鏡探針可以提供各類樣品表面狀態(tài)的信息。與傳統(tǒng)顯微鏡相比，它的優(yōu)點(diǎn)是在大氣條件下，可以在高倍率下觀察樣品表面，現(xiàn)在幾乎可以用于所有樣品（對(duì)表面光潔度有一定要求），無(wú)需其他樣品制備.可以獲得樣品表面的三維形貌圖像。可以對(duì)掃描的三維形貌圖像進(jìn)行粗糙度計(jì)算、厚度、步寬、框圖或粒度分析。例如，它的優(yōu)點(diǎn)是比掃描電子顯微鏡(SEM)和光學(xué)粗糙度計(jì)具有更高的分辨率。樣品表面的三維數(shù)據(jù)滿足了科研、生產(chǎn)、質(zhì)檢越來(lái)越微觀的要求。
另外，原子力顯微鏡探針的優(yōu)點(diǎn)是無(wú)損。探針與樣品表面的相互作用力小于10-8N，遠(yuǎn)小于以往測(cè)針粗糙度儀的壓力，因此不會(huì)損壞樣品。這些地方也不存在掃描電鏡的電子束損傷問(wèn)題。此外，掃描電子顯微鏡需要對(duì)非導(dǎo)電樣品進(jìn)行涂層，而原子力顯微鏡探針不需要。特別是用途廣泛，可用于表面觀察、尺寸測(cè)量、表面粗糙度測(cè)量、粒度分析、凸凹統(tǒng)計(jì)處理、成膜條件評(píng)價(jià)、保護(hù)層尺寸步長(zhǎng)測(cè)量、和層間絕緣膜的平整。度數(shù)評(píng)價(jià)、VCD鍍膜評(píng)價(jià)、取向膜摩擦處理工藝評(píng)價(jià)、缺陷分析等。原子力顯微鏡探針具有強(qiáng)大的軟件處理功能，其他三維圖像的尺寸、視角、顯示顏色和光澤度可自由選擇放。并可選擇網(wǎng)絡(luò)、等高線、線條顯示。圖像處理、斷面形狀和粗糙度分析、形貌分析等功能的宏觀管理。
關(guān)于原子力顯微鏡探針的優(yōu)勢(shì)就為大家說(shuō)到這里了。今天的知識(shí)點(diǎn)就先說(shuō)到這里了。對(duì)于防水卷材還有不了解的地方也可以隨時(shí)來(lái)咨詢我們。不管是任何問(wèn)題都就會(huì)幫助你耐心去解答的。
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另外，原子力顯微鏡探針的優(yōu)點(diǎn)是無(wú)損。探針與樣品表面的相互作用力小于10-8N，遠(yuǎn)小于以往測(cè)針粗糙度儀的壓力，因此不會(huì)損壞樣品。這些地方也不存在掃描電鏡的電子束損傷問(wèn)題。此外，掃描電子顯微鏡需要對(duì)非導(dǎo)電樣品進(jìn)行涂層，而原子力顯微鏡探針不需要。特別是用途廣泛，可用于表面觀察、尺寸測(cè)量、表面粗糙度測(cè)量、粒度分析、凸凹統(tǒng)計(jì)處理、成膜條件評(píng)價(jià)、保護(hù)層尺寸步長(zhǎng)測(cè)量、和層間絕緣膜的平整。度數(shù)評(píng)價(jià)、VCD鍍膜評(píng)價(jià)、取向膜摩擦處理工藝評(píng)價(jià)、缺陷分析等。原子力顯微鏡探針具有強(qiáng)大的軟件處理功能，其他三維圖像的尺寸、視角、顯示顏色和光澤度可自由選擇放。并可選擇網(wǎng)絡(luò)、等高線、線條顯示。圖像處理、斷面形狀和粗糙度分析、形貌分析等功能的宏觀管理。
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