原子力顯微鏡探針是什么？
發(fā)布日期：2023-03-03 11:17:00

 原子力顯微鏡探針是什么？

原子力顯微鏡探針是一種新型的探測技術(shù)，它可以提供更精確的細(xì)胞結(jié)構(gòu)和分子結(jié)構(gòu)的信息，從而更好地了解細(xì)胞的功能和結(jié)構(gòu)。原子力顯微鏡探針的基本原理是通過探針的碰撞和拉伸作用，使細(xì)胞表面的分子結(jié)構(gòu)發(fā)生變化，從而獲得細(xì)胞表面的結(jié)構(gòu)信息。原子力顯微鏡探針可以用于細(xì)胞研究、分子生物學(xué)和藥物研究，可以提供更多的細(xì)胞結(jié)構(gòu)和分子結(jié)構(gòu)信息，從而更好地了解細(xì)胞的功能和結(jié)構(gòu)。此外，原子力顯微鏡探針還可以用于研究細(xì)胞的發(fā)育、細(xì)胞的細(xì)胞周期、細(xì)胞的增殖和凋亡等。原子力顯微鏡探針的應(yīng)用可以幫助我們更好地了解細(xì)胞的功能和結(jié)構(gòu)，從而更好地開發(fā)藥物和新技術(shù)。未來，原子力顯微鏡探針將繼續(xù)發(fā)揮重要作用，為細(xì)胞研究、分子生物學(xué)和藥物研究等領(lǐng)域提供更多的信息，從而更好地促進(jìn)科學(xué)技術(shù)的發(fā)展。

作為掃描探針顯微鏡家族的一員，原子力顯微鏡具有納米分辨率，操作簡單。它是目前研究納米技術(shù)和材料分析的重要工具之一。原子力顯微鏡使用探針和樣品之間的原子力之間的關(guān)系來獲得樣品的表面形態(tài)。到目前為止，原子力顯微鏡已經(jīng)開發(fā)了許多分析功能，原子力顯微技術(shù)已經(jīng)成為當(dāng)今科學(xué)研究中不可或缺的重要分析工具。

在現(xiàn)代儀器發(fā)展史上，顯微技術(shù)隨著人類科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步而迅速發(fā)展。隨著新的微觀技術(shù)的發(fā)明，科學(xué)研究和材料開發(fā)也被推向了微觀世界。自1982年賓寧和羅貝爾共同發(fā)明掃描隧道顯微鏡（STM）以來，人類在探索原子尺度的愿望上邁出了一大步，對物質(zhì)表面現(xiàn)象的研究也可以得到更深入的理解。在此之前，只有場離子顯微鏡（FIM）和電子顯微鏡（EM）可以直接看到原子大小。然而，由于試件的制備條件和操作環(huán)境的限制，對原子尺寸的研究有限，STM的發(fā)明克服了這些問題。由于STM的原理主要是利用電子隧穿效應(yīng)獲得原子圖像，因此材料具有導(dǎo)電性，其應(yīng)用受到限制。1986年，Binning等人利用這種探針的概念開發(fā)了原子力顯微鏡（AFM）。AFM不僅具有原子尺寸分析的能力，而且解決了STM在導(dǎo)體上的局限性，應(yīng)用更加方便。