力學(xué)測試及表面分析
布魯克Hysitron PI89用于SEM的納米壓痕儀------穩(wěn)定,精確和模塊化的原位SEM納米力學(xué)測試設(shè)備
布魯克PI95用于TEM的納米壓痕儀------第一個能夠直接在透射電子顯微鏡內(nèi)觀察納米力學(xué)測試的設(shè)備,原位納米力學(xué)測試儀器
布魯克PI85L用于SEM的納米壓痕儀----深度傳感的納米力學(xué)測試儀器,可與掃描電子顯微鏡(SEM)聯(lián)用,原位納米力學(xué)測試儀器