行業(yè)動態(tài)
發(fā)現(xiàn)最新行業(yè)動態(tài)及技術(shù)發(fā)展新聞
發(fā)布日期：2023-05-22 11:34:50
原子力顯微鏡探針是在STM的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的。它用于通過測量樣品表面上的分子（原子）與AFM微懸臂探針之間的相互作用來觀察樣品表面的形態(tài)。
發(fā)布日期：2023-04-12 10:00:44
原子力顯微鏡探針能夠探測到幾乎所有的材料，包括金屬、半導(dǎo)體、陶瓷、聚合物、生物分子等。
發(fā)布日期：2023-04-04 10:41:35
原子力顯微鏡探針，簡稱AFM（AtomicForceMicroscope），是一種利用微小力量探測物質(zhì)表面的工具。它具有高分辨率、高靈敏度和不需要顯影劑等優(yōu)點，因此在材料科學(xué)、表面科學(xué)、納米學(xué)、生物科學(xué)等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。
發(fā)布日期：2023-03-23 11:01:03
原子力顯微鏡探針是一種非接觸式呈量子力學(xué)效應(yīng)的微小探頭，也被稱為“納米高精度計”、“納米級掃描振鏡”等。它由納米級電子學(xué)傳感器、微機械臂等部分組成，可測定固體物質(zhì)表面的微觀形貌和性能特征。
發(fā)布日期：2023-03-13 14:59:37
原子力顯微鏡探針的工作模式都有哪些？
原子力顯微鏡探針是一種分析儀器，可用于研究固體材料（包括絕緣體）的外層結(jié)構(gòu)。它通過檢測待測展示物外層和微力傳感元件當(dāng)中微弱的原子間相互作用來研究材料的外層結(jié)構(gòu)和財產(chǎn)。根據(jù)探針與展示物外層相互作用力的變化，AFM有三種主要工作系統(tǒng)：碰達系統(tǒng)、非碰達系統(tǒng)和輕敲系統(tǒng)。
發(fā)布日期：2023-03-03 11:17:00
原子力顯微鏡探針是什么？
原子力顯微鏡探針是一種新型的探測技術(shù)，它可以提供更精確的細胞結(jié)構(gòu)和分子結(jié)構(gòu)的信息，從而更好地了解細胞的功能和結(jié)構(gòu)。